 |
Dunne films krachtige LiTaO3 Lithium Tantalaat Wafer 3 inch In Biomedische Sensing
Productdetails:
| Plaats van herkomst: | China |
| Merknaam: | BonTek |
| Certificering: | ISO:9001, ISO:14001 |
| Modelnummer: | Lithiumtantalaat (LiTaO3) |
Betalen & Verzenden Algemene voorwaarden:
| Min. bestelaantal: | 100 stuks |
|---|---|
| Prijs: | Onderhandelbaar |
| Verpakking Details: | Het pakket van de cassettekruik, zuigt verzegeld |
| Levertijd: | 2-4 weken |
| Betalingscondities: | T/T |
| Levering vermogen: | 10000 PCs/maand |
|
Gedetailleerde informatie |
|||
| Materiaal: | LiTaO3 dunne folie | Graad: | SAW-kwaliteit |
|---|---|---|---|
| richtlijn: | 42Y-snijding, Z-snijding, 36Y-snijding, enz. | De oppervlakte eindigt: | Pools, Lap. |
| Diameter: | 3 inch, 4 inch. | Dikte: | 80 ± 2 μm |
| Primaire Vlakte: | 22 ± 2 mm, 32 ± 2 mm | Toepassing: | Pyro-elektriciteit |
| Markeren: | Dunne films LiTaO3-wafer,Lithiumtantalaatwafer in biomedische sensoren,Lithium Tantalaat Wafer 3 inch |
||
Productomschrijving
Dunne films, krachtige toepassingen: LiTaO3 in biomedische sensoren
In het domein van biomedische sensoren, LiTaO3 verschijnt als een game-changer, gedreven door zijn pyro-elektrische effect en onze toewijding aan ultra-dunne wafers.met een dikte van 20 mm en met een diameter van maximaal 5 cmHet pyro-elektrische effect zorgt, wanneer het in biomedische sensoren wordt gebruikt, voor nauwkeurige temperatuurmetingen die van vitaal belang zijn in verschillende medische toepassingen.Van patiëntenbewaking tot diagnostische instrumenten, wordt de dunne film van LiTaO3 de basis voor innovaties die prioriteit geven aan gevoeligheid en betrouwbaarheid op biomedisch gebied.
|
Diameter |
76.2 ± 0,2 mm |
100 ± 0,2 mm |
150 ± 0,2 mm |
|
Primary Flat |
22 ± 1 mm |
32 ± 1 mm |
47.5mm, 57.5mm, Notch |
|
Oriëntatie |
36°W, 42°W, X-112°W, Y, Z |
||
|
Dikte |
00,02 mm tot 1,0 mm |
00,02 mm tot 1,0 mm |
00,05 mm tot 1,0 mm |
|
Afwerking van het oppervlak |
Eenzijdig / dubbelzijdig gepolijst / dubbelzijdig gepolijst |
||
|
TTV |
< 1 ~ 5 μm |
||
|
BOW |
± (20 μm ~ 40 μm) |
||
|
Warp snelheid. |
<= 20 μm ~ 50 μm |
||
|
LTV (5mmx5mm) |
< 1,5 mm |
||
|
PLTV ((< 0,5 mm) |
≥98% (5 mm*5 mm) met uitzondering van de rand van 2 mm |
||
|
Gepolijste zijde Ra |
Ruwheid Ra<=5A |
||
|
Criteria voor de achterzijde |
Ruwheid Ra:0.5-1.0 μm, GC#1000 |
||
|
Scratch & Dig (S/D) |
20/10, 40/20, 60/40 |
||
|
Edge-profiel |
Compleet met SEMI M1.2@ met GC800#.regular op C getypt |
||
|
scheuren, zagen, vlekken |
Geen |
||
|
Kristallenstructuur |
Trigonaal, Ruimtegroep R3c, Puntgroep 3m |
|
Celparameters |
a=5,154Å, c=13,781Å |
|
Smeltepunt |
1650°C |
|
Curie-temperatuur |
607°C |
|
Hardheid van Mohs |
5.5 |
|
Dichtheid |
7.46 g/cm3 |
|
Dielectrische constante |
De test wordt uitgevoerd op de volgende wijze:51.7 |
|
ε33/ε0:44.5 |
|
|
Elastische stijfheidscoëfficiënten |
CE11:2.33(×1011N/m2) |
|
CE33:2.77(×1011N/m2) |
|
|
Piezo-elektrische spanningsconstanten |
d22:2.4 ((×10-11C/N) |
|
d33:0.8(×10-11C/N) |
|
|
Transmissiebereik |
400-4500 nm |
|
Elektro-optische coëfficiënten |
r33=30,4pm/V |
|
Brekingsindex bij 632,8 nm |
No=2.176, ne=2.180 |